Titre: Imagerie moléculaire par spectrométrie de masse : de la biologie au patrimoine
Conférence du Dr Alain Brunelle, de l’ Institut de Chimie des Substances Naturelles, Université Paris-Sud, Université Paris-Saclay.
Hôte : Pierre Chaurand
Résumé:
La spectrométrie de masse par temps de vol d’ions secondaires (TOF-SIMS) est une technique d’analyse très répandue pour l’étude des surfaces en science des matériaux. Le développement de sources d’ions polyatomiques permet l’analyse de composés organiques à une échelle de moins d’un micron. Depuis peu des sources d’agrégats massifs d’argon permettent aussi une analyse en 3D des échantillons. Le TOF-SIMS est devenu ainsi une méthode de choix pour l’imagerie chimique par spectrométrie de masse à l’échelle micrométrique ou sub-micrométrique, complémentaire de la désorption-ionisation laser assistée par matrice (MALDI), plus répandue, mais limitée à plusieurs microns. À côté de nombreuses applications où la localisation précise de lipides se révèle être un outil précieux dans les domaines biologiques et biomédicaux, le TOF-SIMS est aussi particulièrement utile pour l’analyse in situ de métabolites dans des échantillons végétaux ou pour la détermination précise de la composition organique et minérale d’échantillons du patrimoine, comme des prélèvements de tableaux anciens.
